Se procura pelos melhores serviços em metrologia e eletrônica, a MiDS tem a solução ideal para você, sendo uma empresa especializada no segmento que conta com os melhores profissionais, prontos para prover um serviço idôneo e de excelência em Medição de camada por Fluorescência de Raios-X, a fim de garantir o perfeito funcionamento dos mais diversos componentes e equipamentos.

Trabalhamos com uma equipe completa, responsável por fornecer materiais, prestar consultorias, suporte e manutenção em tudo o que se refere a metrologia e eletrônica, além de engenheiros e técnicos especializados na Medição de camada por Fluorescência de Raios-X nos quais são treinados constantemente a fim de trabalhar com as principais empresas dos setores.

A MiDS também possui know-how de mercado, estando há mais de 15 anos atuando diretamente no mercado para fornecer soluções que supram com as necessidades de todos os clientes contratantes, utilizando de técnicas de Medição de camada por Fluorescência de Raios-X, além tomografia computadorizada industrial para as melhores marcas presente no segmento.

Para que possamos realizar a Medição de camada por Fluorescência de Raios-X com o máximo de eficácia, utilizamos os melhores equipamentos e softwares, que nos ajudam a garantir mais assertividade e agilidade nos estudos.

Visamos sempre proporcionar um atendimento mais rápido e eficiente a todos que necessitam de serviços de inspeção, consultoria e manutenção utilizando raios-x e tomografia computadorizada industrial.

As vantagens da Medição de camada por Fluorescência de Raios-X

A Medição de camada por Fluorescência de Raios-X é uma técnica não destrutiva, bem como a medição de tensão residual, analisando qualitativamente a concentração de elementos em uma determinada amostra, sendo possível avaliar a composição química desses elementos e da amostra, sejam elementos sólidos, líquidos, pastas e pós soltos.

A radiação emitida através do processo de Medição de camada por Fluorescência de Raios-X, faz com que os átomos da amostra passem de seu estado fundamental à instabilidade, chamado de “Estado Excitado”. A excitação do átomo ocorre por conta da absorção da energia externa (Raios-x), que irão evoluir os elétrons a níveis mais energéticos.

A instabilidade causada no átomo através da Medição de camada por Fluorescência de Raios-X tende a retornar ao seu estado fundamental naturalmente, e esse processo é o que promove a liberação de energia que, por sua vez, irá servir como base para ajudar a identificar e quantificar o determinado elemento presente na amostra.

Assim que recebem uma excitação adequada, os elementos químicos emitem radiações particulares e a técnica de Medição de camada por Fluorescência de Raios-X irá se basear nessa premissa. A energia emitida assim que há a instabilidade do átomo pode ser induzida por meio do impacto de partículas aceleradas como elétrons, prótons, partículas alfa e íons, além do impacto advindo de radiações de alta energia por meio de um tubo de raios-X ou de fontes radioativas.

Assim que o átomo recebe uma descarga através da Medição de camada por Fluorescência de Raios-X, os fótons de raios-X atingem um elétron e, com isso, esse elétron não se sustenta em uma camada atômica que tenha menor energia, deixando um vazio, que é logo preenchido por um elétron com mais energia. Nesse processo, acontece a liberação de energia, no caso a fluorescência, desprendida na forma de um fóton de raios-X.

Com a técnica de Medição de camada por Fluorescência de Raios-X conseguimos efetuar análises dos mais diferentes tipos de amostras, como camadas sobrepostas em amostras metálicas ou não metálicas, galvanizados, medição de camada ENIG e ENEPIG em PCB, entre outros.