A espectrometria de fluorescência de raios-X (XRF) é uma técnica não destrutiva que permite identificar os elementos presentes em uma amostra (análise qualitativa) assim como estabelecer a proporção (concentração) em que cada elemento se encontra presente na amostra.

Nesse procedimento é utilizada uma fonte de radiação com elevada energia, que provoca a excitação dos átomos presentes na amostra. Com isso, o átomo passa do estado “estável” para “excitado” e naturalmente, ao se tornar estável outra vez, ocorre uma liberação de energia. Cada elemento químico possui uma energia com característica diferente, o que permite a identificação da substância e definição de sua quantidade.

A espectrometria por fluorescência de raios x (XRF) pode ser aplicado na análise de diversos tipos de amostras, como: camadas sobrepostas em amostras metálicas ou não metálicas, galvanizados, medição de camada ENIG e ENEPIG em PCB, entre outros.